成都华微获得发明专利授权：“基于FPGA的DDR3物理层校准方法”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示成都华微电子科技股份有限公司新获得一项发明专利授权，专利名为“基于FPGA的DDR3物理层校准方法”，专利申请号为CN202210193265.2，授权日为2025年8月1日。

专利摘要：一种基于FPGA的DDR3物理层校准方法，涉及集成电路技术，本发明包括下述步骤：（1）恢复读采样时钟：从颗粒发出的DQS中提取与读DQS同频同相的读采样时钟和对其分频得到的二分频时钟；（2）确定从向颗粒发送读命令到收到数据的之间的时延周期；（3）校准走线延时差异；（4）对颗粒写入规律数；（5）读通道训练校准：从颗粒中读取步骤4）写入的规律数，调整读采样时钟和DQ组内各bit的时延，使DQ数据的各bit位右对齐，且读采样时钟处于稳定区域的口中心。本发明技术应用广泛，校准精度高。

通过天眼查大数据分析，成都华微电子科技股份有限公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目431次；财产线索方面有商标信息10条，专利信息225条，著作权信息38条；此外企业还拥有行政许可9个。

数据来源：天眼查APP

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