精智达获得发明专利授权：“一种基于相位偏折术的缺陷检测方法、装置及存储介质”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示深圳精智达技术股份有限公司新获得一项发明专利授权，专利名为“一种基于相位偏折术的缺陷检测方法、装置及存储介质”，专利申请号为CN202510512963.8，授权日为2025年8月15日。

专利摘要：本申请公开了一种基于相位偏折术的缺陷检测方法、装置及存储介质，用于提高对不同显著性缺陷的检测能力。获取待测显示屏的反射条纹图像；对所述反射条纹图像进行相位提取和相位解包裹处理，生成相位分布数据；提取所述相位分布数据的梯度数据；根据所述梯度数据和显著性阈值对所述反射条纹图像的缺陷区域进行多层级显著性识别，生成多层级显著性识别结果，所述多层级显著性识别结果包括高显著性检测结果、中显著性检测结果、低显著性检测结果，不同层级的显著性识别结果对应不同的类型的缺陷；将多层级显著性识别结果进行分级分类处理；将分级分类处理后的最终检测结果输出。

通过天眼查大数据分析，深圳精智达技术股份有限公司共对外投资了8家企业，参与招投标项目180次；财产线索方面有商标信息46条，专利信息235条，著作权信息113条；此外企业还拥有行政许可18个。

数据来源：天眼查APP

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