ST思科瑞获得发明专利授权：“一种半导体器件的测试方法及系统”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示成都思科瑞微电子股份有限公司新获得一项发明专利授权，专利名为“一种半导体器件的测试方法及系统”，专利申请号为CN202611101476.3，授权日为2026年10月27日。

专利摘要：本发明提供了一种半导体器件的测试方法及系统，方法包括：获取每颗被试器件的性能基准数据，性能基准数据包括多种性能的基准值；以及获取每颗被试器件在老化试验过程中每个时间点下的性能测试数据；根据性能基准数据构建每颗被试器件的基准样本，根据每个时间点下的性能测试数据构建每颗被试器件的实测样本；对基准样本和实测样本进行聚类处理，得到聚类处理结果；根据聚类处理结果确定每颗被试器件是否存在异常。本发明通过对基准样本和实测样本进行聚类处理，能够准确区分正常器件与异常器件，并自动识别异常类型，有利于提高老化试验数据的分析效率和可靠性。

通过天眼查大数据分析，成都思科瑞微电子股份有限公司共对外投资了5家企业，参与招投标项目18次；财产线索方面有商标信息2条，专利信息53条，著作权信息49条；此外企业还拥有行政许可34个。

数据来源：天眼查APP

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