首页 - 股票 - 公司新闻 > 广立微相关新闻

广立微公司新闻

· 广立微新注册《广立微半导体大模型平台V1.0》等2个项目的软件著作权
2025-06-07 02:12:47
· 广立微新注册《广立微Frame自动化设计软件V1.0》项目的软件著作权
2025-06-03 01:11:11
· 广立微获得发明专利授权：“应用于FinFET工艺中监控EPI的测试结构及方法”
2025-05-31 02:39:09
· 广立微：公司将继续围绕主营业务持续完善EDA产品生态努力提高核心价值和经营业绩
2025-05-26 18:30:47
· 广立微（301095）2025年一季报简析：营收上升亏损收窄，三费占比上升明显
2025-04-27 06:41:52
· 广立微获得发明专利授权：“多路地址寄存器、探针卡、可寻址测试芯片、系统及方法”
2025-04-26 03:43:15
· 广立微：拓展AI在芯片设计自动化等场景应用边界推动半导体行业向智能化未来迈进
2025-04-22 20:16:00
· 广立微：新加坡公司发挥海外桥梁作用，投资合作与人才吸引双轮驱动国际化布局
2025-04-22 20:16:00
· 广立微：积极设立海外子公司和参股合作伙伴，加强海外业务拓展，寻求新的增长点
2025-04-22 20:16:00
· 广立微：研发产品正逐步商业落地，预计为收入、利润的提速增长积蓄力量
2025-04-22 20:16:00

· 广立微：业绩目标未达成主要受到硬件业务增速放缓的影响
2025-04-22 20:00:20
· 广立微（301095）2024年年报简析：增收不增利，公司应收账款体量较大
2025-04-22 06:08:17
· 创新驱动责任并举广立微2024年营收同比增长14.50%
2025-04-21 15:06:00
· 广立微(301095.SZ)：2024年净利润8026.85万元同比下降37.68%
2025-04-20 19:25:51
· 广立微获得发明专利授权：“侧墙融合距离条件监测的电学测试结构及其位置选放方法”
2025-04-16 02:33:26
· 广立微新提交“SEMI MIND”商标注册申请
2025-04-13 04:59:35
· 广立微获得外观设计专利授权：“用于电子设备的故障检测分类图形用户界面（二）”
2025-04-12 03:19:46
· 广立微获得外观设计专利授权：“用于电子设备的晶圆数据统计分析图形用户界面”
2025-04-12 03:19:45
· 广立微获得外观设计专利授权：“用于电子设备的晶圆缺陷分析图形用户界面”
2025-04-12 03:19:43
· 广立微获得外观设计专利授权：“用于电子设备的晶圆良率分析图形用户界面”
2025-04-12 03:19:40

· 广立微获得外观设计专利授权：“用于电子设备的晶圆测试分析图形用户界面”
2025-04-12 03:19:38
· 广立微获得外观设计专利授权：“用于电子设备的晶圆重测分析图形用户界面”
2025-04-12 03:19:32
· 广立微获得发明专利授权：“基于测试结构设计的绕线方法、绕线装置和可读存储介质”
2025-04-09 02:44:16
· 广立微获得发明专利授权：“一种焊盘间距调节方法、装置和存储介质”
2025-04-09 02:42:49
· 广立微获得发明专利授权：“半导体栅极侧墙厚度测试方法、结构、装置及存储介质”
2025-04-02 02:29:40
· 【ESG动态】广立微（301095.SZ）获华证指数ESG最新评级BB，行业排名第58
2025-03-30 09:08:52
· 广立微获得外观设计专利授权：“用于电子设备的故障检测分类图形用户界面（二）”
2025-03-28 02:24:32
· 广立微获得外观设计专利授权：“用于电子设备的晶圆数据统计分析图形用户界面”
2025-03-28 02:24:30
· 广立微获得外观设计专利授权：“用于电子设备的晶圆缺陷分析图形用户界面”
2025-03-28 02:24:29
· 广立微获得外观设计专利授权：“用于电子设备的晶圆良率分析图形用户界面”
2025-03-28 02:24:25

· 广立微获得外观设计专利授权：“用于电子设备的晶圆测试分析图形用户界面”
2025-03-28 02:24:23
· 广立微获得外观设计专利授权：“用于电子设备的晶圆重测分析图形用户界面”
2025-03-28 02:24:16
· 广立微新注册《广立微可寻址eFuse测试芯片自动化设计软件V1.0》等2个项目的软件著作权
2025-03-27 01:24:16
· 广立微：公司已在2023年年度报告中披露了取得专利的情况
2025-03-25 20:00:15
· 广立微获得发明专利授权：“一种测试结构的版图形成方法、测试结构及可读存储介质”
2025-03-22 03:24:28
· 广立微获得发明专利授权：“版图文件拼接方法、装置和计算机可读存储介质”
2025-03-19 02:53:05
· 广立微获得发明专利授权：“栅极多晶硅断路测试结构及生成方法、装置、设备和介质”
2025-03-19 02:52:46
· 广立微获得发明专利授权：“栅极多晶硅短接测试结构及其生成方法、装置和存储介质”
2025-03-19 02:51:31
· 广立微获得实用新型专利授权：“一种FinFET工艺中栅极间距漂移的电学检测结构及系统”
2025-03-19 02:48:59
· 广立微获得外观设计专利授权：“用于电子设备的线上部署服务监控图形用户界面”
2025-03-18 03:01:47

· 广立微获得发明专利授权：“一种版图结构自动抽取方法”
2025-03-15 03:27:21
· 广立微（301095.SZ）妙盈科技ESG评级C，行业排名第177
2025-03-12 09:08:43
· 【ESG动态】广立微（301095.SZ）获妙盈科技ESG评级C，行业排名第177
2025-03-12 09:08:42
· 广立微获得发明专利授权：“一种基于电阻敏感的绕线方法”
2025-03-08 03:37:15
· 广立微获得发明专利授权：“一种Z型走线图形及集群的识别方法”
2025-03-08 03:35:56
· 广立微获得发明专利授权：“用于FinFET工艺中检测边缘鳍形变的测试结构及方法”
2025-03-08 03:31:31
· 广立微获得实用新型专利授权：“一种FinFET工艺中栅极间距漂移的电学检测结构及系统”
2025-03-04 02:47:58
· 广立微获得发明专利授权：“一种生成SDB隔离效果测试结构的方法及测试结构”
2025-03-01 03:23:18
· 广立微获得发明专利授权：“一种设计规则检查结果的过滤方法、装置及存储介质”
2025-02-26 03:00:14
· 广立微：公司的合作伙伴情况请参见公司的官网、公众号以及相关公告
2025-02-24 19:30:25

1 2 3 4 5

网站导航 | 公司简介 | 法律声明 | 诚聘英才 | 征稿启事 | 联系我们 | 广告服务 | 举报专区

欢迎访问证券之星！请点此与我们联系版权所有： Copyright © 1996-年