晶合集成公司新闻
- · 晶合集成: 公司55nm中高阶单芯片及堆栈式图像传感器芯片已批量生产,中高阶CIS产品量产顺利
- 2024-07-05 17:06:26
- · 晶合集成: 目前公司的生产经营情况正常,订单充足,产能处于满载状态
- 2024-07-03 19:03:16
- · 晶合集成获得实用新型专利授权:“一种半导体芯片的测试电路结构以及半导体芯片”
- 2024-07-03 02:34:29
- · 晶合集成获得实用新型专利授权:“一种浮体储存器”
- 2024-07-03 02:25:35
- · 晶合集成获得发明专利授权:“半导体器件及其制备方法”
- 2024-06-29 02:27:06
- · 晶合集成获得实用新型专利授权:“一种光罩”
- 2024-06-29 02:25:20
- · 晶合集成获得实用新型专利授权:“一种晶圆盒装载台”
- 2024-06-29 02:25:17
- · 晶合集成获得实用新型专利授权:“一种在线式阴阳离子分析仪的采样装置”
- 2024-06-28 02:22:32
- · 晶合集成获得实用新型专利授权:“废气处理装置及去胶设备”
- 2024-06-26 02:57:16
- · 晶合集成获得实用新型专利授权:“一种芯片测试机头及其应用的半导体设备”
- 2024-06-26 02:47:24
- · 晶合集成获得发明专利授权:“导线型深沟槽隔离结构及其制备方法”
- 2024-06-23 02:06:59
- · 晶合集成获得实用新型专利授权:“一种石英腔体的安装治具”
- 2024-06-19 02:27:23
- · 晶合集成获得实用新型专利授权:“一种对准标记及半导体结构”
- 2024-06-19 02:20:38
- · 晶合集成获得发明专利授权:“闪存及其制作方法”
- 2024-06-19 02:14:48
- · 晶合集成: 由于公司目前产能处于满载状态,为应对市场需求,2024年计划扩产3-5万片/月
- 2024-06-18 20:01:48
- · 晶合集成获得发明专利授权:“一种图像传感器及其制备方法”
- 2024-06-15 02:22:23
- · 晶合集成: 公司28nm纳米OLED芯片研发目前正在稳步推进中,技术水平处于国际主流
- 2024-06-14 17:05:28
- · 晶合集成获得实用新型专利授权:“一种光罩”
- 2024-06-14 02:03:49
- · 晶合集成获得实用新型专利授权:“一种晶圆盒装载台”
- 2024-06-14 02:03:44
- · 晶合集成获得发明专利授权:“深沟槽结构的制备方法及深沟槽结构”
- 2024-06-12 02:07:15
- · 晶合集成获得发明专利授权:“一种晶圆缺陷检测模型的训练方法以及系统”
- 2024-06-12 02:07:12
- · 晶合集成获得发明专利授权:“一种背照式图像传感器及其制作方法”
- 2024-06-12 02:06:31
- · 晶合集成获得发明专利授权:“工艺参数确定方法及其系统、生产系统”
- 2024-06-12 02:05:52
- · 晶合集成获得发明专利授权:“半导体结构及其制备方法”
- 2024-06-12 02:05:36
- · 晶合集成获得发明专利授权:“晶圆接受测试方法”
- 2024-06-12 02:05:09
- · 晶合集成获得发明专利授权:“光刻图形量测检测方法及其系统”
- 2024-06-12 02:02:53
- · 晶合集成: 未来如有并购重组等计划,公司会按相关规定及时履行信息披露义务,请以公司公告为准
- 2024-06-11 19:03:31
- · 晶合集成获得实用新型专利授权:“废气处理装置及去胶设备”
- 2024-06-11 02:10:52
- · 晶合集成获得实用新型专利授权:“一种芯片测试机头及其应用的半导体设备”
- 2024-06-11 02:06:32
- · 晶合集成获得发明专利授权:“半导体结构及其制备方法”
- 2024-06-08 02:24:17
- · 晶合集成获得发明专利授权:“静态随机存取存储器单元的制备方法”
- 2024-06-08 02:22:36
- · 晶合集成获得发明专利授权:“套刻检测方法”
- 2024-06-08 02:20:25
- · 晶合集成获得发明专利授权:“晶圆加热装置、套刻标记及装置控制方法”
- 2024-06-08 02:18:26
- · 晶合集成获得发明专利授权:“一种OPC修正方法及OPC修正系统”
- 2024-06-08 02:18:13
- · 晶合集成获得发明专利授权:“一种半导体器件的制备方法”
- 2024-06-08 02:17:39
- · 晶合集成获得发明专利授权:“半导体结构及其制作方法”
- 2024-06-08 02:17:22
- · 晶合集成获得发明专利授权:“关键尺寸的量测方法及量测结构”
- 2024-06-08 02:17:16
- · 晶合集成获得发明专利授权:“一种图像传感器的制作方法”
- 2024-06-05 02:31:43
- · 晶合集成获得发明专利授权:“一种半导体结构的制造方法”
- 2024-06-05 02:31:34
- · 晶合集成获得发明专利授权:“一种半导体结构及其制备方法”
- 2024-06-05 02:26:57
- · 晶合集成(688249.SH):累计耗资5.98亿元回购2.09%股份
- 2024-06-04 17:46:07
- · 晶合集成获得发明专利授权:“一种OPC修正方法、装置及掩膜版结构”
- 2024-05-29 02:31:05
- · 晶合集成获得发明专利授权:“一种半导体器件及其制作方法”
- 2024-05-29 02:30:50
- · 晶合集成获得实用新型专利授权:“一种晶圆的测试装置及半导体机台”
- 2024-05-29 02:27:04
- · 晶合集成获得发明专利授权:“一种OPC修正方法”
- 2024-05-29 02:25:40
- · 晶合集成获得发明专利授权:“一种半导体结构及其制造方法”
- 2024-05-29 02:25:17
- · 晶合集成获得发明专利授权:“退火方法”
- 2024-05-29 02:21:43
- · 晶合集成获得发明专利授权:“浅沟槽隔离结构、半导体结构及制备方法”
- 2024-05-29 02:16:18
- · 晶合集成获得实用新型专利授权:“一种半导体真空计系统及其应用的半导体设备”
- 2024-05-29 02:16:08
- · 晶合集成获得发明专利授权:“半导体器件、半导体器件的制作方法以及三维存储器”
- 2024-05-25 02:17:23