晶合集成公司新闻
- ·晶合集成获得发明专利授权:“孔槽、沟槽隔离结构及半导体制备方法”
- 2026-06-24 03:30:28
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体器件及其制造方法”
- 2026-06-24 03:29:41
- ·晶合集成获得发明专利授权:“高雷击浪涌耐量的超高压结型场效应管器件及其制作方法”
- 2026-06-24 03:29:21
- ·晶合集成获得发明专利授权:“电容结构及其制造方法”
- 2026-06-24 03:28:58
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体FDC卡控分群的异常识别方法及系统”
- 2026-06-24 03:28:25
- ·晶合集成获得发明专利授权:“场板介质层及其制备方法”
- 2026-06-24 03:28:24
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“晶圆干燥装置和晶圆干燥系统”
- 2026-06-23 03:15:14
- ·晶合集成获得发明专利授权:“MOS晶体管的电流比离群值判定装置及方法”
- 2026-06-20 03:09:24
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体器件及其制造方法”
- 2026-06-20 03:08:54
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体器件版图设计装置以及半导体器件版图设计方法”
- 2026-06-20 03:08:03
- ·晶合集成获得发明专利授权:“用于背照式图像传感器的像素单元及其制备方法”
- 2026-06-20 03:07:45
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体测试结构及测试方法”
- 2026-06-20 03:07:16
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种氮化硅薄膜的形成方法及基于该方法形成的器件结构”
- 2026-06-17 03:04:40
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种电阻的测量结构、测量方法及集成电路”
- 2026-06-17 03:04:01
- ·晶合集成获得发明专利授权:“晶圆键合对准补偿方法、电子设备和可读存储介质”
- 2026-06-17 03:03:55
- ·晶合集成获得发明专利授权:“掩膜图案的生成方法、掩膜、半导体结构及其制造方法”
- 2026-06-17 03:03:49
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体结构及其制备方法”
- 2026-06-17 03:03:31
- ·晶合集成获得发明专利授权:“掩模板、图形形成方法及半导体器件的制备方法”
- 2026-06-17 03:03:10
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体结构及其制备方法”
- 2026-06-17 03:02:29
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“一种半导体测试结构及晶圆”
- 2026-06-16 03:23:12
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“一种半导体薄膜沉积设备”
- 2026-06-16 03:22:48
- ·粤芯半导体IPO:百亿亏损背后,一场资本豪赌的真实代价
- 2026-06-15 08:46:41
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“一种晶圆支撑装置”
- 2026-06-13 03:40:52
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种图像传感器的制造方法及图像传感器”
- 2026-06-10 03:36:52
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种键合结构及其制备方法”
- 2026-06-10 03:36:45
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体结构的制造方法和半导体结构”
- 2026-06-10 03:36:12
- ·晶合集成获得发明专利授权:“机台差异识别方法、系统、电子设备和存储介质”
- 2026-06-10 03:35:58
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“刻蚀槽系统”
- 2026-06-10 03:35:29
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“写入辅助电路、存储器、电子设备”
- 2026-06-10 03:35:25
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“半导体工艺制程的气体检测装置”
- 2026-06-10 03:35:13
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“压力控制组件、研磨装置、化学机械抛光机台”
- 2026-06-10 03:34:11
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“读取辅助电路、存储器、电子设备”
- 2026-06-10 03:34:10
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体测试结构及其测试方法”
- 2026-06-06 03:33:27
- ·晶合集成:公司产品代工价格已有所上调
- 2026-06-04 18:00:37
- ·晶合集成(688249.SH):拟将BGBM业务从公司现有业务剥离并对安徽瑞晶增资
- 2026-06-03 17:50:26
- ·【ESG动态】晶合集成(688249.SH)获华证指数ESG最新评级AA,行业排名第4
- 2026-06-03 09:09:46
- ·晶合集成获得发明专利授权:“集成电路的电阻检查方法”
- 2026-06-03 03:15:52
- ·晶合集成获得发明专利授权:“漏电监测结构及方法”
- 2026-06-03 03:15:42
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种半导体器件及制造方法”
- 2026-06-03 03:15:42
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“一种晶圆支撑装置”
- 2026-05-29 03:03:24
- ·晶合集成获得发明专利授权:“电路版图的检查方法、装置、计算机设备和存储介质”
- 2026-05-27 03:29:10
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体结构及其制备方法”
- 2026-05-27 03:28:29
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种半导体器件及其制作方法”
- 2026-05-27 03:27:41
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种半导体结构的制备方法”
- 2026-05-27 03:27:33
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体器件及其制造方法”
- 2026-05-27 03:27:33
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体器件的参数校准方法和制造方法”
- 2026-05-27 03:27:16
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体器件及其制造方法”
- 2026-05-27 03:27:11
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种半导体结构及其制造方法”
- 2026-05-27 03:27:09
- ·晶合集成获得发明专利授权:“浅沟槽隔离结构及其制造方法”
- 2026-05-27 03:26:54
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“刻蚀槽系统”
- 2026-05-26 03:13:37

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