晶合集成公司新闻
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“一种晶圆支撑装置”
- 2026-06-13 03:40:52
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种图像传感器的制造方法及图像传感器”
- 2026-06-10 03:36:52
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种键合结构及其制备方法”
- 2026-06-10 03:36:45
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体结构的制造方法和半导体结构”
- 2026-06-10 03:36:12
- ·晶合集成获得发明专利授权:“机台差异识别方法、系统、电子设备和存储介质”
- 2026-06-10 03:35:58
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“刻蚀槽系统”
- 2026-06-10 03:35:29
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“写入辅助电路、存储器、电子设备”
- 2026-06-10 03:35:25
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“半导体工艺制程的气体检测装置”
- 2026-06-10 03:35:13
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“压力控制组件、研磨装置、化学机械抛光机台”
- 2026-06-10 03:34:11
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“读取辅助电路、存储器、电子设备”
- 2026-06-10 03:34:10
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体测试结构及其测试方法”
- 2026-06-06 03:33:27
- ·晶合集成:公司产品代工价格已有所上调
- 2026-06-04 18:00:37
- ·晶合集成(688249.SH):拟将BGBM业务从公司现有业务剥离并对安徽瑞晶增资
- 2026-06-03 17:50:26
- ·【ESG动态】晶合集成(688249.SH)获华证指数ESG最新评级AA,行业排名第4
- 2026-06-03 09:09:46
- ·晶合集成获得发明专利授权:“集成电路的电阻检查方法”
- 2026-06-03 03:15:52
- ·晶合集成获得发明专利授权:“漏电监测结构及方法”
- 2026-06-03 03:15:42
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种半导体器件及制造方法”
- 2026-06-03 03:15:42
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“一种晶圆支撑装置”
- 2026-05-29 03:03:24
- ·晶合集成获得发明专利授权:“电路版图的检查方法、装置、计算机设备和存储介质”
- 2026-05-27 03:29:10
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体结构及其制备方法”
- 2026-05-27 03:28:29
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种半导体器件及其制作方法”
- 2026-05-27 03:27:41
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体器件及其制造方法”
- 2026-05-27 03:27:33
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种半导体结构的制备方法”
- 2026-05-27 03:27:33
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体器件的参数校准方法和制造方法”
- 2026-05-27 03:27:16
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体器件及其制造方法”
- 2026-05-27 03:27:11
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种半导体结构及其制造方法”
- 2026-05-27 03:27:09
- ·晶合集成获得发明专利授权:“浅沟槽隔离结构及其制造方法”
- 2026-05-27 03:26:54
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“刻蚀槽系统”
- 2026-05-26 03:13:37
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“写入辅助电路、存储器、电子设备”
- 2026-05-26 03:13:33
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“半导体工艺制程的气体检测装置”
- 2026-05-26 03:13:20
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“压力控制组件、研磨装置、化学机械抛光机台”
- 2026-05-26 03:12:21
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“读取辅助电路、存储器、电子设备”
- 2026-05-26 03:12:19
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体器件及其制备方法”
- 2026-05-23 03:02:20
- ·晶合集成(688249.SH):发行境外上市股份(H 股)获得中国证监会备案
- 2026-05-22 18:51:27
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体结构及其制备方法、背照式图像传感器”
- 2026-05-20 03:01:41
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种半导体结构的制备方法及半导体结构”
- 2026-05-20 03:01:02
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体测试结构及保护MOS管的选取方法”
- 2026-05-16 03:26:29
- ·晶合集成获得发明专利授权:“电容器结构以及电容器结构的制造方法”
- 2026-05-16 03:26:16
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体器件的制造方法”
- 2026-05-16 03:25:44
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体器件及其制备方法”
- 2026-05-16 03:25:19
- ·晶合集成获得实用新型专利授权:“一种探针组件、探针卡及检测系统”
- 2026-05-16 03:23:25
- ·晶合集成获得发明专利授权:“半导体器件测试结构及使用该结构的半导体器件评价方法”
- 2026-05-13 02:59:11
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种半导体器件的制作方法”
- 2026-05-13 02:58:53
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种半导体装置及其制造方法”
- 2026-05-13 02:58:42
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种结型场效应管及其制作方法”
- 2026-05-13 02:58:25
- ·晶合集成获得发明专利授权:“图像传感器及其形成方法”
- 2026-05-13 02:58:23
- ·晶合集成获得发明专利授权:“机台传感器分级方法和基于传感器数据的机台管控方法”
- 2026-05-13 02:58:17
- ·晶合集成获得发明专利授权:“方块电阻预测模型训练方法及方块电阻预测方法”
- 2026-05-09 03:08:24
- ·晶合集成获得发明专利授权:“离子注入设备和离子注入方法”
- 2026-05-06 03:22:31
- ·晶合集成获得发明专利授权:“一种半导体器件阈值电压控制方法、系统、设备及介质”
- 2026-05-06 03:21:50

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